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粉塵中游離二氧化硅測定儀

粉塵中游離二氧化硅測定儀

產品型號: TJ270-30/30A

所屬分類:游離二氧化硅測定儀

更新時間:2020-10-05

簡要描述:TJ270-30/30A粉塵中游離二氧化硅測定儀
工作環境中的粉塵種類較多,主要有矽塵、煤塵、鍋爐塵、石棉塵、水泥塵等。當粉塵中的游離二氧化硅含量較高時,對接觸人員危害較大,因此有必要加強對粉塵中游離二氧化硅的測定。以往檢測粉塵中的游離二氧化硅含量,均采用GB 5748 - 1985規定的“焦磷酸重量法“[ 1 ] ,但該方法操作繁瑣、檢測周期長、準確性差,難以滿足批量檢測的要求

詳細說明:

TJ270-30/30A粉塵中游離二氧化硅測定儀
 

  工作環境中的粉塵種類較多,主要有矽塵、煤塵、鍋爐塵、石棉塵、水泥塵等。當粉塵中的游離二氧化硅含量較高時,對接觸人員危害較大,因此有必要加強對粉塵中游離二氧化硅的測定。以往檢測粉塵中的游離二氧化硅含量,均采用GB 5748 - 1985規定的“焦磷酸重量法”[ 1 ] ,但該方法操作繁瑣、檢測周期長、準確性差,難以滿足批量檢測的要求。
 

  為了提高檢測的準確度,實現批量檢測的目的,我公司專業提供工作環境中粉塵及煤礦粉塵測定配套設備----游離二氧化硅檢測儀。(符合中華人民共和國國家職業衛生標準GBZ/T 192.4—2007 工作場所空氣中粉塵測定)
 

  主要特點:
 

  在國內*采用計算機直接比例記錄原理
 

  采用一塊高能量雙閃耀光柵覆蓋整個工作波段
 

  采用高性能計算機進行儀器控制和數據處理
 

  WINDWOS中文操作軟件
 

  采用USB接口
 

  采用國產TGS為接收器,價格低廉,性能可靠。
 

  游離二氧化硅測定儀儀器主要數據處理功能:
 

  光譜背景基線記憶 光譜背景基線校正 光譜數據累加運算 %T與ABS轉換
 

  光譜數據平滑運算 光譜基線傾斜校正 光譜文件管理 光譜峰值檢出
 

  光譜數據微分運算 光譜數據四則運算 光譜刻度擴展 光譜吸收擴展
 

  性能指標:
 

  波數范圍:4000-400cm-1
 

  波數精度:≤±4cm-1(4000-2000cm-1)≤±2 cm-1(2000-400cm-1)
 

  分辨能力:1.5cm-1(1000cm-1附近)
 

  透過率精度:≤±0.2%T(不含噪音電平)
 

  Io線平直度:≤±2%T
 

  雜散光:≤0.5%T(4000-650cm-1) ≤1%T(650-400cm-1)
 

  測試模式:三種(透過率、吸光度、單光束)
 

  掃描速度:五檔(很快、快、正常、慢、很慢)
 

  狹縫程序:五檔(很寬、寬、正常、窄、很窄)
 

  響應:四檔(很快、快、正常、慢)
 

  工作方式:三種:(連續掃描、重復掃描、定波長掃描)
 

  橫、縱坐標擴展:任意
 

  TJ270-30/30A粉塵中游離二氧化硅測定儀配套附件:
 

  FW-5粉末壓片機、HF-2壓片模具、KBr藥片架、瑪瑙研缽器、紅外烘烤箱、溴化鉀粉末、十萬分之一天平、高溫電爐、粉塵采樣器(防爆)、α2SiO2標準品:純度在99%以上等



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